・質量分析装置(島津SEC(GPC)-AccuSpot-AXIMA Confidence)
< 高分子質量分析> |
・ゲルパーミエイションクロマトグラフィー (PL-GPC220超高温用GPCシステム)
<高分子分別> |
・微小結晶用単結晶構造解析装置 (リガクVariMax-SCM)
< 高分子モデル化合物微小単結晶精密構造解析 > |
・高感度2次元X線回折図形測定用検出器 (リガクPILATUS-300K)
< 高感度高速2次元X線散乱測定> |
・2次元X線検出器 Hi-STAR (ブルカー)
<X線散乱測定用検出器> |
・小角光散乱装置 DYNA-3000(大塚電子)
<小角光散乱測定による球晶研究> |
・単結晶構造解析用X線回折装置 R-axis Rapid-R(リガク)
< 高分子モデル化合物結晶構造解析 > |
・X線粉末回折計RINT-TTR V(リガク)
<X線回折熱分析同時測定用> |
・高輝度小角X線散乱装置NANO-Viewer(リガク)
< 小角X線散乱測定> |
・高分子ダイナミックイメージングプレートシステム(リガク)
< 高速X線回折図形測定> |
・高分子広角小角測定用多機能型X解回折システム (ブルカーDIP1000)
< 広角小角X線散乱測定> |
・ラマン分光光度計 NRS-2100(日本分光)
<高分子の振動分光> |
・遠赤外分光光度計 FT/IR-6100FV(日本分光)
< 高分子の低波数振動解析> |
・高速スキャン型フーリエ変換赤外分光光度計 FT7000 (Varian)
<高分子結晶化の構造変化追跡> |
・2次元顕微赤外分光光度計 FastImageIR (Varian)
<高分子フィルムの2次元イメージ> |
・紫外可視近赤外分光光度計(日本分光)
< 共役高分子の構造解析> |
・示差熱走査熱量計 DSCQ1000T (TAI)
<相転移における熱変化の評価> |
・熱機械測定装置 TMA(TAI) <熱膨張の測定> |
・熱重量測定 TGA (TAI) <熱分解の測定 > |
・並列計算機システム(ダイキン工業)
<分子の熱運動、電子状態予測> |
・プローブラマン散乱装置(LASERエコバイオ)
< X線回折とラマンの同時測定用> |
・原子間力顕微鏡(アサイラム)
<高分子表面における分子配列観測> |
・顕微鏡用加熱冷却・延伸・せん断力印加セル(Linkam)
< 高分子結晶化・相転移現象追跡> |